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| MEDICIÓN DE OVALIDAD SIN CONTACTO. |
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Para la medición de la ovalidad se necesitan al menos dos ejes de medición.
En la disposición estándar con dos ejes situados verticalmente el uno con el otro, los ejes del corte transversal pueden evaluarse en una unidad de evaluación o en el PC.
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LAP ofrece también sistemas de medición de hasta 6 ejes, para registrar geometrías complejas.
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| EJEMPLOS DE UTILIZACIÓN. |
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Si con los ejemplos de utilización siguientes no
encuentra la solución a su definición, no se preocupe. Pregúntenos !
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| SENSORES. |
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