THICKNESS CHECK

THICKNESS CHECK—厚度测量激光系统

CALIX 系列是用于一个机架中差分厚度测量的第一个 LAP 传感器产品系列。它们取代了测量框架 - 由于其温度特性,需要非常耗时的重新校准和温度控制。在 LAP 的生产过程,对测量波束的校准进行优化。CALIX 传感器不需要对测量框架中的相反传感器进行进行复杂的调整。与校准相关的误差不会产生。 

对于各种物料,LAP 提供 CALIX XL 应用于辊台中间的测量轨道或横移测量过程中较大的移动范围。在大多数应用中,测量超过 1 米的深度时,允许足够的移动范围,这可通过固定并结实的 O 型框架实现。

LAP 还为您的应用设计了导轨结构,以及对手工将其移出或移回输送轨道进行自动化横移测量。

此处可发现更多有关 CALIX 传感器的信息。

应用短片

两个穿过式 CALIX XL 激光系统测量条的厚度。
客户:Haynes International, Kokomo (IN), USA

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优点

  • 从± 0,5 μm 的可重复性
  • 测量频率:4 kHz
  • 测量范围:30 mm
  • 单独的材料和表面
  • 稳定的温度
  • 运营和维护成本低
  • 防护等级 IP 64
  • 2 级激光器

技术详细信息

测量范围 (a)30 mm
焊缝高度 (b)200 mm
焊缝厚度 (c)1300 mm
测量深度 (d)1020 mm
分辨率0,5 μm
可重复性*± 0,5 μm
线性*± 2,0 μm
测量频率最大 4 kHz
激光功率**最大 1 mW
激光等级2
激光类型, 波长二极管, 670 nm (红色)
光束散角1,2 mrad
信号处理80 MHz DSP
接口RS 485, 以太网 / UDP 经由
外部/内部网关
电源24 VDC, 最大 500 mA
投影等级IP 64
尺寸 (HxWxD)800 x 300 x 1645 mm
重量约230 kg
环境条件0 - 40 °C, 35 - 85 % 相对湿度, 非冷凝

 

* 测试条件:20° C, matt 白色,平均时间 50 ms, 2σ
** 更大功率可能取得

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